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透射电镜与扫描电镜
尝试介绍
透射电子显微镜（transmission electron microscope，，，，， ，TSE）是利用透射电子成像，，，，， ，因而要求样品极薄厚度不能超100nm。。。。。。。其结构蕴含三大部门：电子学系统、真空系统和电子光学系统。。。。。。。
扫描电子显微镜 (scanning electron microscopy，，，，， ，SEM) 是利用聚焦的极度细的高能电子束在试样上扫描，，，，， ，引发出各类物理信息。。。。。。。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，，，，， ，获得测试样表表描摹的观察。。。。。。。其结构由真空系统，，，，， ，电子束系统以及成像系统组成。。。。。。。
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